El infrarrojo de onda corta (SWIR) constituye una lente óptica diseñada específicamente para capturar luz infrarroja de onda corta que no es directamente perceptible por el ojo humano. Esta banda se denomina habitualmente luz y tiene longitudes de onda que oscilan entre 0,9 y 1,7 micrones. El principio operativo de la lente infrarroja de onda corta depende de las propiedades de transmisión del material para una longitud de onda de luz específica y, con la ayuda de materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento, la lente puede conducir de manera competente la luz infrarroja de onda corta mientras suprime la luz visible. luz y otras longitudes de onda indeseables.
Sus principales características comprenden:
1. Alta transmitancia y selectividad espectral:Las lentes SWIR emplean materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento para lograr una alta transmitancia dentro de la banda infrarroja de onda corta (0,9 a 1,7 micrones) y poseen selectividad espectral, lo que facilita la identificación y conducción de longitudes de onda específicas de luz infrarroja y la inhibición de otras longitudes de onda de luz. .
2. Resistencia a la corrosión química y estabilidad térmica:El material y el revestimiento de la lente demuestran una excelente estabilidad química y térmica y pueden mantener el rendimiento óptico bajo fluctuaciones extremas de temperatura y diversas circunstancias ambientales.
3. Alta resolución y baja distorsión:Las lentes SWIR manifiestan atributos ópticos de alta resolución, baja distorsión y respuesta rápida, cumpliendo con los requisitos de imágenes de alta definición.
Las lentes infrarrojas de onda corta se utilizan ampliamente en el ámbito de la inspección industrial. Por ejemplo, en el proceso de fabricación de semiconductores, las lentes SWIR pueden detectar defectos dentro de las obleas de silicio que son difíciles de detectar bajo luz visible. La tecnología de imágenes infrarrojas de onda corta puede aumentar la precisión y eficiencia de la inspección de obleas, reduciendo así los costos de fabricación y mejorando la calidad del producto.
Las lentes infrarrojas de onda corta desempeñan un papel vital en la inspección de obleas semiconductoras. Dado que la luz infrarroja de onda corta puede atravesar el silicio, este atributo permite que las lentes infrarrojas de onda corta detecten defectos dentro de las obleas de silicio. Por ejemplo, la oblea podría tener fisuras debido a la tensión residual durante el proceso de producción, y estas fisuras, si no se detectan, influirán directamente en el rendimiento y el coste de fabricación del chip IC final terminado. Al aprovechar las lentes infrarrojas de onda corta, estos defectos se pueden discernir de manera efectiva, promoviendo así la eficiencia de la producción y la calidad del producto.
En aplicaciones prácticas, las lentes infrarrojas de onda corta pueden proporcionar imágenes de alto contraste, haciendo visibles incluso los defectos más pequeños. La aplicación de esta tecnología de detección no solo mejora la precisión de la detección sino que también reduce el costo y el tiempo de la detección manual. Según el informe de investigación de mercado, la demanda de lentes infrarrojas de onda corta en el mercado de detección de semiconductores aumenta año tras año y se espera que mantenga una trayectoria de crecimiento estable en los próximos años.
Hora de publicación: 18-nov-2024