El infrarrojo de onda corta (SWIR) consiste en una lente óptica diseñada específicamente para capturar la luz infrarroja de onda corta, invisible para el ojo humano. Esta banda se conoce habitualmente como luz con longitudes de onda de 0,9 a 1,7 micras. El principio de funcionamiento de la lente infrarroja de onda corta se basa en las propiedades de transmisión del material para una longitud de onda específica. Con la ayuda de materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento, la lente puede conducir eficazmente la luz infrarroja de onda corta, a la vez que suprime la luz visible y otras longitudes de onda indeseables.
Sus principales características comprenden:
1. Alta transmitancia y selectividad espectral:Las lentes SWIR emplean materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento para lograr una alta transmitancia dentro de la banda infrarroja de onda corta (0,9 a 1,7 micrones) y poseen selectividad espectral, lo que facilita la identificación y conducción de longitudes de onda específicas de luz infrarroja y la inhibición de otras longitudes de onda de luz.
2. Resistencia a la corrosión química y estabilidad térmica:El material y el revestimiento de la lente demuestran una estabilidad química y térmica excepcional y pueden mantener el rendimiento óptico en fluctuaciones extremas de temperatura y diversas circunstancias ambientales.
3. Alta resolución y baja distorsión:Las lentes SWIR manifiestan atributos ópticos de alta resolución, baja distorsión y respuesta rápida, cumpliendo con los requisitos de imágenes de alta definición.
Las lentes infrarrojas de onda corta se utilizan ampliamente en la inspección industrial. Por ejemplo, en la fabricación de semiconductores, las lentes SWIR pueden detectar defectos en obleas de silicio que son difíciles de detectar con luz visible. La tecnología de imágenes infrarrojas de onda corta puede aumentar la precisión y la eficiencia de la inspección de obleas, reduciendo así los costes de fabricación y mejorando la calidad del producto.
Las lentes infrarrojas de onda corta desempeñan un papel fundamental en la inspección de obleas de semiconductores. Dado que la luz infrarroja de onda corta puede penetrar el silicio, esta característica permite a las lentes infrarrojas de onda corta detectar defectos en las obleas de silicio. Por ejemplo, la oblea podría presentar fisuras debido a la tensión residual durante el proceso de producción, y estas fisuras, de no detectarse, influirán directamente en el rendimiento y el coste de fabricación del chip CI final. Al utilizar lentes infrarrojas de onda corta, estos defectos se pueden detectar eficazmente, mejorando así la eficiencia de la producción y la calidad del producto.
En aplicaciones prácticas, las lentes infrarrojas de onda corta pueden proporcionar imágenes de alto contraste, haciendo visibles incluso los defectos más pequeños. La aplicación de esta tecnología de detección no solo mejora la precisión, sino que también reduce el coste y el tiempo de la detección manual. Según el informe de investigación de mercado, la demanda de lentes infrarrojas de onda corta en el mercado de detección de semiconductores aumenta año tras año y se prevé que mantenga una trayectoria de crecimiento estable en los próximos años.
Hora de publicación: 18 de noviembre de 2024